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Teradyne accélère le test des mémoires de nouvelle génération avec Magnum E2

13/10/2026 09h27, par electronique-mag.com

L?architecture avancée Near-DUT offre une excellente intégrité du signal à haute vitesse, un niveau élevé de parallélisme et une plateforme de test évolutive et flexible pour accompagner les innovations technologiques des mémoires DRAM et NAND de dernière génération. Teradyne, fournisseur leader de (...)

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