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Keysight lance une unité de mesure de source à haute densité

11/07/2023 18h09, par electronique-mag.com

Objectif : accélérer la caractérisation des semi-conducteurs. La solution permet d'accélérer les délais de commercialisation grâce à des options logicielles flexibles, à une intégration et une synchronisation simplifiées des systèmes et à des capacités de mesure spécifiques à (...)

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