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Nouveau testeur haute-vitesse DS2174 Maxim-Dallas

24/07/2002 18h29, par EDGelectronic

Maxim-Dallas présente le DS2174, membre haute-vitesse de la famille de testeurs de taux d’erreur binaire de Dallas Semiconductor et compatible avec le XBERT de Transwitch.

Ce circuit supporte des débits allant du mode T1 au mode OC-12 et est programmable par logiciel afin de générer et tester les motifs de bits nécessaires à la surveillance des performances des systèmes de transmission numérique. Il intègre un port parallèle de contrôle sur 8 bits permettant d’accéder aux registres de commande et à un choix d’interfaces parallèles ou série.

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